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產(chǎn)品展示/ Product display

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  • 6651日本rst-eng容量計(jì)1kHz電容計(jì)測(cè)量LED顯示屏

    日本rst-eng容量計(jì)1kHz電容計(jì)測(cè)量LED顯示屏 6651 1kHz 電容計(jì) 用于安裝薄膜電容器等的編帶裝置和分選裝置。 測(cè)量范圍:10.0pF至9.99μF 測(cè)量時(shí)間:25毫秒 比較結(jié)果:LED顯示、蜂鳴器 BCD碼輸出

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  • 6062日本rst-eng容量計(jì)測(cè)量電容器電容值高精度

    日本rst-eng容量計(jì)測(cè)量電容器電容值高精度 6062 貼片式電容器編帶機(jī)用高速高精度測(cè)量裝置 以 3 位數(shù)字 1/2 顯示測(cè)量值 測(cè)量范圍0~199.9μF 自動(dòng)雜散校正功能:約18pF 積分時(shí)間:2毫秒 操作時(shí)間:約3毫秒

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  • AD-4771日本aandd內(nèi)置藍(lán)牙的數(shù)字糖度計(jì)糖含量濃度

    日本aandd內(nèi)置藍(lán)牙的數(shù)字糖度計(jì)糖含量濃度 AD-4771 ?測(cè)量范圍(Brix 值):0 至 55% ?通過藍(lán)牙通信與應(yīng)用程序“A&D Brix Check”鏈接 ?可通過應(yīng)用程序進(jìn)行操作,并可保存測(cè)量數(shù)據(jù)的圖像

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  • CMP-21荷蘭Kipp Zonen日射計(jì)高速響應(yīng)放射觀測(cè)量

    荷蘭Kipp Zonen日射計(jì)高速響應(yīng)放射觀測(cè)量 Kipp & Zonen CMP-21 與 CMP11 相比,它的溫度依賴性更小。標(biāo)準(zhǔn)熱敏電阻傳感器(可選:Pt100Ω)監(jiān)控外殼溫度,每個(gè)設(shè)備都附有溫度依賴性數(shù)據(jù)和余弦特性數(shù)據(jù)。它用于科學(xué)研究,用于別的放射觀測(cè)網(wǎng)絡(luò)(BSRN)。

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  • CMP-22荷蘭Kipp Zonen全天空太陽總輻射測(cè)量熱量

    荷蘭Kipp Zonen全天空太陽總輻射測(cè)量熱量 Kipp & Zonen CMP-22 該傳感器使用石英圓頂并測(cè)量水平面上的總太陽輻射,它是直接太陽輻射和散射太陽輻射的組合。

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  • AK-100ZF /AK-150ZF日本進(jìn)口Akion激光干涉儀6英寸測(cè)量玻璃金屬

    日本進(jìn)口Akion激光干涉儀6英寸測(cè)量玻璃金屬 AK-100ZF /AK-150ZF /AK-40ZF 非常適合測(cè)量玻璃、塑料、金屬等的平面形狀。 可以以 λ/20 的高精度測(cè)量和評(píng)估從小直徑到大直徑的拋光表面。

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  • IFM日本進(jìn)口Akion激光光學(xué)干涉條紋分析裝置

    日本進(jìn)口Akion激光光學(xué)干涉條紋分析裝置 IFM 通過高精度分析量化干涉條紋 通過利用激光干涉儀觀察到的干涉條紋圖像,對(duì)拋光表面的表面精度和光學(xué)元件的透射波前精度進(jìn)行量化和可視化,從而獲得精度更高、更易于理解且有助于提高質(zhì)量控制的產(chǎn)品。

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  • 控制器日本alnair-labs高精度波片光學(xué)測(cè)量?jī)x器

    日本alnair-labs高精度波片光學(xué)測(cè)量?jī)x器 Alnair Labs 偏振控制器 使用高精度波片的偏振控制器 模塊化型,可自由組合偏光片和波片

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