日本NPC手動型電阻率測試裝置用于多種材料 sigma-5+ 特點介紹

它可以精確測量硅片等的電阻率，還有用于太陽能電池的硅的便攜式探頭。

這是一款高精度電阻率測量儀器，采用20多年電阻率測量相關(guān)的專業(yè)知識和技術(shù)設(shè)計和開發(fā)。

可以在半導體基板和導電薄膜基板的研發(fā)/檢查過程或生產(chǎn)線中高精度地確定和評估薄層電阻值和體積電阻值。

日本NPC手動型電阻率測試裝置用于多種材料 sigma-5+ 規(guī)格參數(shù)

探頭接觸樣品即自動開始測量

可通過JOG旋鈕快速設(shè)定測量條件

5種測量范圍探頭可根據(jù)樣品電阻率進行更換    

可選配P/N型判定量測功能

應(yīng)用：硅片樣品， 化合物半導體， 外延層， 擴散層， 碳化硅， 薄膜材料， 金屬膜， ITO,  IZO, Low-E玻璃, LED/OLED等材料

這是一款手動型測量儀器，采用四探針法，可輕松準確地測量太陽能電池用硅片、液晶基板、金屬薄膜等的方塊電阻或體積電阻。它支持從低電阻到高電阻的各種測量。

1) 用于硅錠制造→晶圓制造工序（成膜等各工序）的產(chǎn)品檢查　

2) 液晶面板（LCD基板）制造：成膜時的產(chǎn)品檢查

3) 用于各種導電材料制造過程中的產(chǎn)品檢驗

可以使用本公司另外配置的“4點探頭"進行測量。